专利详情

专利名称	基于太赫兹量子阱探测器的被动式热成像探测系统及方法
申请号	CN201110207838.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102288299A	公开（授权）日	2011.12.21
申请（专利权）人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	发明（设计）人	周涛;曹俊诚;张戎;郭旭光
主分类号	G01J5/10(2006.01)I	IPC主分类号	G01J5/10(2006.01)I
专利有效期	基于太赫兹量子阱探测器的被动式热成像探测系统及方法至基于太赫兹量子阱探测器的被动式热成像探测系统及方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于太赫兹量子阱探测器的被动式热成像探测系统及方法，利用光电导型太赫兹量子阱探测器作为探测器，采用自行设计的辐射信号去噪调制方法，同步控制模块和信号传输-汇聚光路，完成了基于THzQWP的被动式热成像探测。在热辐射信号的采集端，利用可调式孔径光阑和斩波器对热辐射信号进行调制，调制频率由斩波器设定。THzQWP的信号检测电路端采用光电导模式，THzQWP通过离轴抛面镜组汇聚光路接收辐射信号并提取THz信号，通过加上稳定偏压，经跨阻放大器将THzQWP光电流转换成电压，通过低噪声放大器放大，由锁相放大器读数据。读出的信号再由同步控制模块记录并处理，最终获得热图像信息。