专利详情

专利名称	基于位平面的不等长的量化/反量化方法
申请号	CN03148032.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1568010	公开（授权）日	2005.01.19
申请（专利权）人	中国科学院计算技术研究所	发明（设计）人	高文;范晓鹏;吕岩
主分类号	H04N7/26	IPC主分类号	H04N7/26;H04N5/14;H04N11/02
专利有效期	基于位平面的不等长的量化/反量化方法至基于位平面的不等长的量化/反量化方法	法律状态	授权
说明书摘要	本发明公开了一种基于位平面的不等长的量化/ 反量化方法，首先依据预先定义，对量化/反量化前的系数按照其重要性，依照由高到低的顺序依次从小到大编号；再根据微调参数，将量化/反量化前的系数划分为重要和不重要两组系数；根据该两组量化/反量化前的系数以及粗调参数，分别计算得到各自对应的量化/反量化后的系数。本发明的量化/反量化方法对于重要系数，量化/反量化的步长短，对于不重要系数，则使用长的量化/反量化步长；同时，量化/反量化的步长都是2 的幂次，并在给定微调参数和粗调参数后，量化/反量化的步长只分成两个等级。本发明在量化/反量化过程中，不使用乘法，而只使用移位运算就可以实现，有利于硬件设计，并且实现简单。