专利详情

专利名称	一种利用高码率卷积码实现的压缩电路和方法
申请号	CN200410045981.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN1584617	公开（授权）日	2005.02.23
申请（专利权）人	中国科学院计算技术研究所	发明（设计）人	韩银和;李晓维
主分类号	G01R31/28	IPC主分类号	G01R31/28;H03M13/00
专利有效期	一种利用高码率卷积码实现的压缩电路和方法至一种利用高码率卷积码实现的压缩电路和方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及卷积编码设计和芯片可测性设计中的测试响应压缩电路。首先提出一种码率为n/l，距离为3的卷积码。根据该卷积码的基本校验矩阵可得到一种单输出时序压缩电路。当卷积码基本校验矩阵符合三个规则时，所设计的卷积码的距离就为3。符合这三个规则的基本校验矩阵可用一个自动方法实现，该方法分为8个步骤。卷积码到测试响应压缩电路的映射有三个规则，这三个规则均可用程序自动实现。本发明实现的是单输出压缩电路，所以具有压缩率高的特点。应用本发明压缩电路的全扫描设计，能够缩短扫描链长度，减少测试时间。