专利详情

专利名称	一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法
申请号	CN200610140892.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101165474	公开（授权）日	2008.04.23
申请（专利权）人	中国科学院福建物质结构研究所	发明（设计）人	兰国政;吴少凡;林文雄
主分类号	G01N21/84(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/84(2006.01)I;G01N21/49(2006.01)I
专利有效期	一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法至一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法，涉及一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法。应用高功率连续、准连续固体激光器照射非线性晶体器件，采用He-Ne激光散射法，通过硅光电二极管来接收激光照射非线性晶体器件时，晶体前后表面对He-Ne激光的散射变化，形成脉冲TTL信号，利用继电器来控制设置在光路上的挡板(Shutter)，利用计时器来记录激光照射时间。逐渐加大激光的输出功率，直至硅光电二极管观测到He-Ne激光的散射变化。通过计算这时作用于非线性晶体器件表面的激光功率密度，计算出非线性晶体器件在连续、准连续激光照射下的激光损伤阈值。