专利详情

专利名称	一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置
申请号	CN200610113799.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101165492	公开（授权）日	2008.04.23
申请（专利权）人	中国科学院空间科学与应用研究中心	发明（设计）人	韩建伟;李小银;李宏伟;张振龙;黄建国;全荣辉;封国强;蔡明辉
主分类号	G01P3/66(2006.01)I	IPC主分类号	G01P3/66(2006.01)I;G01P3/64(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I;G01B7/12(2006.01)I
专利有效期	一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置至一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种测量高速微粒速度和直径的方法及装置。该方法包括步骤： (1)确定微粒的发出时刻和初始位置；(2)利用微粒撞击穿过位于第二位置的对电极板时产生的等离子体产生脉冲信号；(3)确定脉冲信号产生的时刻为微粒运动到达第二位置的时刻；(4)通过初始位置、第二位置、微粒发出时刻和到达第二位置的时刻来确定微粒的平均速度。(5)利用脉冲信号的幅度和相应微粒速度的大小推导出微粒的直径。该装置包括：直流电源和作为撞击靶的中间夹有绝缘膜的对电极板组成的回路；第一电阻串联在所述回路中，电压检测装置与第一电阻并联。本发明优点在于：在线测量、测量精度高、信噪比高、抗电磁干扰能力强、探测效率高、装置成本低。