
时间分辨荧光光谱测硼仪控制单元及应用其的测硼方法
- 申请号:CN201110045231.0
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学技术大学
- 公开(公开)号:CN102650596A
- 公开(公开)日:2012.08.29
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 时间分辨荧光光谱测硼仪控制单元及应用其的测硼方法 | ||
申请号 | CN201110045231.0 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102650596A | 公开(授权)日 | 2012.08.29 |
申请(专利权)人 | 中国科学技术大学 | 发明(设计)人 | 石春;储著林;吕飞;吴刚;秦琳琳;凌青 |
主分类号 | G01N21/64(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/64(2006.01)I;G05B19/042(2006.01)I |
专利有效期 | 时间分辨荧光光谱测硼仪控制单元及应用其的测硼方法 至时间分辨荧光光谱测硼仪控制单元及应用其的测硼方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明提供的时间分辨荧光光谱测硼仪控制单元及应用其的测硼方法,利用高性能的DSP和高速高精度的模数转换模块,同时使用FPGA对模数转换模块的采样时间进行精确的控制。从而可以提高信号的采集速度和精度。并且本控制单元的数模转换模块输出的模拟信号包括两个通道,一个用来控制光电倍增管的放大倍数,另一个通道用来控制脉冲光源发出的激发光的强度。本发明提供的控制单元集成度高,可以完成模拟信号的采集和数字信号的输出控制,并且高精度和高速度保证了测量的精确性。 |
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