专利详情

专利名称	一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器
申请号	CN201010211433.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101865884A	公开（授权）日	2010.10.20
申请（专利权）人	中国科学院声学研究所	发明（设计）人	刘久玲;何世堂;李顺洲;刘明华;李红浪
主分类号	G01N29/036(2006.01)I	IPC主分类号	G01N29/036(2006.01)I;G01N29/34(2006.01)I
专利有效期	一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器至一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种单模式突出的双端对谐振式声表面波检测器，该检测器包括制作在压电晶片上3个叉指换能器和2个金属反射栅阵；其中，3个叉指换能器之间的间隔相等，且间隔是叉指换能器0.25波长的0-100倍；第一金属反射栅阵与其相邻第一叉指换能器之间的间隔，第二金属反射栅阵与其相邻第三叉指换能器之间的间隔相等，且间隔是叉指换能器0.25波长的1-10倍；3个叉指换能器的同步频率相等，叉指换能器的同步频率是金属反射栅阵同步频率的0.95-1.05倍，频率响应曲线中的两个纵向模式的能量幅度差距大于5dB。它是一种低插损(小于4dB)、高Q值(大于2000)、两模式之间幅度差距足够大(大于10dB)的声表面波检测器。