用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法
- 申请号：CN201010209712.6
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院电工研究所
- 公开(公开)号：CN101865982A
- 公开(公开)日：2010.10.20
- 法律状态：实质审查的生效
- 出售价格： 面议 立即咨询
专利详情
| 专利名称 | 用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法 | ||
| 申请号 | CN201010209712.6 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN101865982A | 公开（授权）日 | 2010.10.20 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院电工研究所 | 发明（设计）人 | 王秋良;王厚生;胡新宁;宋涛;严陆光 |
| 主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/12(2006.01)I;G01L3/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法 至用于测量空间磁体二极磁矩的装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种用于空间磁体的二极磁矩的测量装置包括空间磁体(1)、支撑杆(2)、旋转架(3)、吊杆(4)、Helmholtz线圈(5)、支承座(6)、测力仪(7)和固定架(8)。由于Helmholtz线圈(5)产生的磁场和空间磁体(1)的磁矩相互作用，产生旋转力矩。Helmholtz线圈(5)受到旋转力矩作用，通过旋转架(3)和吊杆(4)使Helmholtz线圈(5)在支承座(6)承载支撑杆(2)上旋转。通过测量Helmholtz线圈(5)的转动力矩测量磁体的二极磁矩的大小。 | ||
交易流程
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