专利详情

专利名称	一种基于单片机的微波辐射计的扫描控制装置及控制方法
申请号	CN200910082348.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101865994A	公开（授权）日	2010.10.20
申请（专利权）人	中国科学院空间科学与应用研究中心	发明（设计）人	张瑜;张升伟;孙波;李丹娜
主分类号	G01S7/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01S7/02(2006.01)I;H01Q3/10(2006.01)I;H01Q1/24(2006.01)I
专利有效期	一种基于单片机的微波辐射计的扫描控制装置及控制方法至一种基于单片机的微波辐射计的扫描控制装置及控制方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种基于单片机的微波辐射计扫描控制装置及其控制方法。该装置包括：控制电路部分、天线扫描驱动电路部分和数据采集电路部分，控制电路部分根据系统既定的时序或上位机系统注入的控制指令，控制数据采集电路完成天线不同扫描方位的数据采集；天线扫描驱动电路由总线驱动电路和电机驱动电路组成，电机驱动电路依据上位机注入控制指令，完成对天线扫描方位和速度的控制；数据采集电路由隔离驱动电路、多路选择器以及A/D转换器组成，依据控制电路发出的指令和天线转动速度，完成数据采集。本发明的控制装置对天线扫描速度和天线观测角度实时控制，并根据天线扫描速度确定数据采集电路的采样速率，两者结合灵活性更高，应用范围更广泛。