专利详情

专利名称	基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统
申请号	CN200610104862.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101178337	公开（授权）日	2008.05.14
申请（专利权）人	中国科学院西安光学精密机械研究所	发明（设计）人	马臻;樊学武;陈荣利;李英才
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I
专利有效期	基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统至基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种杂光系数测试方法及其系统，尤其是一种基于计算全息元件的大口径杂光系数测试方法及其系统。其技术解决方案为：该方法包括以下步骤：1)将出射的激光扩束成为大口径平行光；2)将该大口径平行光照射到计算机全息光学元件上得到空心光束；3)将空心光束出射入待测光学系统后，在待测光学系统后焦面上形成被亮光区围绕的黑斑区域；4)分别测量黑斑区域光照度E_b及亮光区的光照度E_w；5)根据公式e=E_h/E_w×100％得出杂光系数e。其解决了普通技术中测试不方便、实现难度困难的技术问题。