专利详情

专利名称	一种质谱质量测量误差的预测方法
申请号	CN200610164852.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101196498	公开（授权）日	2008.06.11
申请（专利权）人	中国科学院计算技术研究所	发明（设计）人	高文;张京芬;贺思敏
主分类号	G01N30/72(2006.01)I	IPC主分类号	G01N30/72(2006.01)I
专利有效期	一种质谱质量测量误差的预测方法至一种质谱质量测量误差的预测方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种质谱质量测量误差的预测方法，包括如下步骤：步骤一，将物质的测量误差分解为系统误差与随机误差；步骤二，在质谱中计算样本点的测量误差，样本点包括质谱中的离子、离子之和或者离子之差；步骤三，使随机误差的目标函数取最值来确定系统误差分布函数的参数取值。所述在质谱中计算样本点的测量误差是通过预测离子分子式的方法获得。本发明的优点是：不需要额外的内标或外标参考，不需要进行预先的鉴定；既可以预测单个质谱的误差情况，也可以预测整个样品的所有质谱的误差分布情况；预测准确度高。