
一种光束方位和偏振角度共光路检测装置及方法
- 申请号:CN201010564303.8
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
- 公开(公开)号:CN102109330A
- 公开(公开)日:2011.06.29
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种光束方位和偏振角度共光路检测装置及方法 | ||
申请号 | CN201010564303.8 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102109330A | 公开(授权)日 | 2011.06.29 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明(设计)人 | 杨海马;王建宇;胡以华;贾建军;刘瑾;强佳;张亮;吴金才 |
主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I |
专利有效期 | 一种光束方位和偏振角度共光路检测装置及方法 至一种光束方位和偏振角度共光路检测装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种基于光电位置传感器的光束方位-偏振角度共光路检测装置及方法,利用侧向偏移偏振分光棱镜对入射光束进行整形,输出光强成比例的正交平行偏振光,实现非接触的空间位置姿态传递功能;接收系统利用自带编码器的旋转电机带动检偏器以恒定角速度旋转检测信标光偏振,利用PSD横向光电效应测量信标光光点成像位置,根据成像原理反推信标光束方位坐标;利用入射光强在PSD表面会聚产生的光电流检测入射光强度,与旋转电机瞬时反馈的角度比较,经相敏检波处理后获得信标光束同步偏振角信息,完成信标光跟踪与基矢角调节在同一光路、同一器件上、同时检测的功能,本发明有益效果是结构简单、器件精简,适合多维角度测量需要。 |
交易流程
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专利 -
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可交易 - 03 签订合同
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