一种快速X射线荧光CT方法
- 申请号：CN201010171983.7
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海应用物理研究所
- 公开(公开)号：CN101862200A
- 公开(公开)日：2010.10.20
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 一种快速X射线荧光CT方法 | ||
| 申请号 | CN201010171983.7 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN101862200A | 公开（授权）日 | 2010.10.20 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 邓彪;杨群;谢红兰;杜国浩;肖体乔 |
| 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I | IPC主分类号 | A61B6/03(2006.01)I;A61B6/00(2006.01)I |
| 专利有效期 | 一种快速X射线荧光CT方法 至一种快速X射线荧光CT方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 本发明所要解决的技术问题是提高传统X射线荧光CT的数据采集速度。本发明采取的技术方案是提供一种快速X射线荧光CT方法，具体包括用大光斑照射样品，采用加装铅准直器的阵列荧光探测器记录荧光能谱。该方法的数据采集速度与传统的X射线荧光CT方法相比可提高很多倍，数据采集速度提高的倍数与阵列荧光探测器的阵列元相当，例如对于一个64×64阵列荧光探测器，数据采集速度可提高约64×64倍，可实现快速、原位X射线荧光CT实验。 | ||
交易流程
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