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电子元件封装体及其制造方法

  • 申请号:CN201210311618.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102800636A
  • 公开(公开)日:2012.11.28
  • 法律状态:授权
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 电子元件封装体及其制造方法
申请号 CN201210311618.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102800636A 公开(授权)日 2012.11.28
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 张静;宋崇申;张霞
主分类号 H01L23/38(2006.01)I IPC主分类号 H01L23/38(2006.01)I;H01L21/48(2006.01)I
专利有效期 电子元件封装体及其制造方法 至电子元件封装体及其制造方法 法律状态 授权
说明书摘要 本发明公开了一种电子元件封装体结构,包括位于封装体内部的耦合在一起的热电制冷单元和有源元件。所述热电制冷单元包括串联连接的至少一个N型制冷元件和至少一个P型制冷元件。相应地,还提供了两种该电子元件封装体结构的制作方法。通过将单个或者多个热电制冷单元串联埋入到多层封装基板中,为有源元件埋入技术提供了有效的散热。解决了三维系统封装,特别是有源器件埋入封装技术中热量无法带出的问题,增加了芯片的散热性能。

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