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分裂栅存储器及其制造方法

  • 申请号:CN201110147095.6
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
  • 公开(公开)号:CN102810560A
  • 公开(公开)日:2012.12.05
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 分裂栅存储器及其制造方法
申请号 CN201110147095.6 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102810560A 公开(授权)日 2012.12.05
申请(专利权)人 中国科学院微电子研究所 发明(设计)人 刘明;姜丹丹;霍宗亮;张满红;王琴;刘璟;谢常青
主分类号 H01L29/43(2006.01)I IPC主分类号 H01L29/43(2006.01)I;H01L29/788(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I
专利有效期 分裂栅存储器及其制造方法 至分裂栅存储器及其制造方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种分裂栅存储器,隧穿介质层采用低k介质材料。通过采用低介电常数材料作为分裂栅存储器中的隧穿介质层,由于具有低的介电常数,从而在不增加其隧穿介质层厚度的情况下,有效的降低了控制栅介质层与电荷存储层之间的耦合电容,使得其擦除操作电压有效降低,擦除操作速度得到有效提高。

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