
一种应用在自适应光学图像高分辨率复原的自解卷积方法
- 申请号:CN201210246852.X
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN102819828A
- 公开(公开)日:2012.12.12
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种应用在自适应光学图像高分辨率复原的自解卷积方法 | ||
申请号 | CN201210246852.X | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102819828A | 公开(授权)日 | 2012.12.12 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 田雨;饶长辉 |
主分类号 | G06T5/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G06T5/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种应用在自适应光学图像高分辨率复原的自解卷积方法 至一种应用在自适应光学图像高分辨率复原的自解卷积方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种应用在自适应光学图像高分辨率复原上的图像自解卷积算法,其特征在于:(1)记录自适应光学闭环校正时的成像图像g(x,y),并同时记录下对应于波前传感器中的校正残差信息序列1<n≤N;(2)以校正残差信息序列计算得到校正残差的光学传递函数序列OTFn(u,v),1<n≤N;(3)以OTFn(u,v)与成像图像g(x,y)的功率谱G(u,v)估计出频率调节函数α(u,v);(4)使用降质图像G(u,v)根据幂律关系结合频率调节函数α(u,v)估计出导致图像降质的光学传递函数He(u,v);(5)使用He(u,v)对G(u,v)做解卷积计算,估计出真实目标的频谱并最终得到估计目标本发明有效地提高了自适应光学图像的质量,不需要迭代计算,可以很好地补充自适应光学系统受硬件限制的校正能力,提升成像质量。 |
交易流程
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