专利详情

专利名称	大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统
申请号	CN200810032255.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101214145	公开（授权）日	2008.07.09
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	丁超;步鹏;王向朝
主分类号	A61B5/00(2006.01)I	IPC主分类号	A61B5/00(2006.01)I;G01N21/45(2006.01)I
专利有效期	大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统至大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	大探测深度的频域光学相干层析成像方法及系统，该系统采用折叠光谱探测方法来实现宽带高分辨率的光谱探测，其思想是把一个带宽为Δλ的宽带光谱折叠成多个窄的波长窗口Δλ₁，Δλ₂，…，Δλ_n，对每个谱段实现高分辨率的探测，然后通过拼接把各个光谱段合成一个宽带光谱。谱段的折叠通过组合衍射光栅实现，旋转子光栅调整入射光对于每块光栅的入射角i_m，使每块子光栅所对应的波长窗口Δλ_m的衍射光方向分布在相同的范围之内，然后通过一环面聚焦镜将各谱段的衍射光聚焦在光谱探测阵列的探测面上。本发明通过光谱折叠，增加了光谱探测的有效探测像素数N，提高了光学相干层析成像系统的探测深度和层析图的信噪比。