专利详情

专利名称	一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法
申请号	CN201110161031.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102830345A	公开（授权）日	2012.12.19
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	杨海钢;周发标;秋小强;王飞
主分类号	G01R31/3185(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/3185(2006.01)I
专利有效期	一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法至一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于配置词典的FPGA测试配置分析评价方法，涉及可编程逻辑器件技术，用于分析评价FPGA测试配置的完备性。本发明方法结合FPGA的结构特点，首先建立FPGA的配置词典；然后采用模板化的方法分析测试配置，计算测试配置对配置词典的覆盖率；最后根据计算的覆盖率评价测试配置的完备性。通过本发明提出的方法，无需故障仿真就能对FPGA的测试配置进行快速的分析评价：分析测试配置所有可测和不可测的FPGA资源，评价测试配置的完备性，从而可以指导FPGA测试配置的改进，提高FPGA测试配置的开发效率。