专利详情

专利名称	中阶梯光栅光谱仪、原子发射光谱仪及光谱测试方法
申请号	CN201210310554.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102879091A	公开（授权）日	2013.01.16
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	陈少杰;宁春丽;崔继承;巴音贺希格;齐向东;唐玉国
主分类号	G01J3/28(2006.01)I	IPC主分类号	G01J3/28(2006.01)I;G01J3/443(2006.01)I;G01N21/71(2006.01)I
专利有效期	中阶梯光栅光谱仪、原子发射光谱仪及光谱测试方法至中阶梯光栅光谱仪、原子发射光谱仪及光谱测试方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种中阶梯光栅光谱仪、基于中阶梯光栅光谱仪的原子发射光谱仪、及原子发射光谱仪进行光谱测试的方法。本发明采用中阶梯光栅作为主色散元件；光源发出的光线经聚光镜聚焦在入射针孔，入射针孔出射光束经准直镜准直后入射到中阶梯光栅进行主色散，然后入射到交叉色散棱镜进行横向色散，交叉色散后经聚焦镜成像在CCD的像面上；通过改变交叉色散棱镜的入射角度，实现了200nm-900nm波段范围内的快速测量，具有宽波段、高分辨率、高灵敏度、低噪声、小体积的优点。实验结果表明本发明测试简便、灵敏度高、试样消耗量少、可实现宽波段多元素的快速测量。