
一种降低相变存储器编程功耗的系统及方法
- 申请号:CN200810040950.1
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 公开(公开)号:CN101329907
- 公开(公开)日:2008.12.24
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种降低相变存储器编程功耗的系统及方法 | ||
申请号 | CN200810040950.1 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101329907 | 公开(授权)日 | 2008.12.24 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 发明(设计)人 | 宋志棠;丁晟;陈邦明;刘波;陈小刚;蔡道林;封松林 |
主分类号 | G11C11/56(2006.01)I | IPC主分类号 | G11C11/56(2006.01)I;G11C16/10(2006.01)I |
专利有效期 | 一种降低相变存储器编程功耗的系统及方法 至一种降低相变存储器编程功耗的系统及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明涉及一种降低相变存储器编程功耗的系统及方法,在进行当前编程操作的同时, 预读下一位或多位待编程的地址位,将其数据与待编程数据相比较:如果待写入数据与存储 器原始存入数据相同,则不进行编程操作;如果待写入数据与存储器原始存入数据不同,则 进行编程操作。由于存储器的状态处于“0”与“1”两种状态,按照概率理论,待写入数据 与存储器原始数据相同的概率为50%,故该方法能够降低存储芯片50%的功耗,提高了存储 单元的存储寿命,同时擦、写时间比读的时间要长,因此该发明也可提高芯片的存储速度。 |
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