专利详情

专利名称	激光器噪声特性的测量装置
申请号	CN201110172609.3	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102353523A	公开（授权）日	2012.02.15
申请（专利权）人	中国科学院上海光学精密机械研究所	发明（设计）人	杨飞;蔡海文;陈迪俊;瞿荣辉
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	激光器噪声特性的测量装置至激光器噪声特性的测量装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种激光器噪声特性的测量装置，由激光器噪声波动的转化系统和探测处理系统构成，主要包括环形器，3×3耦合器，第一光开关，第二光开关，光纤，第一法拉第旋转反射镜，第二法拉第旋转反射镜，移频器，第一光电探测器、第二光电探测器、第三光电探测器、第四光电探测器、数据采集卡和计算机。本发明装置能同时测量出激光器的噪声特性，包括激光器的强度噪声功率谱密度、相位噪声功率谱密度、频率噪声功率谱密度、线宽和频率不稳定性的阿仑方差，具有集成度高，结构较简洁的特点，不需要额外的主动控制手段，对待测激光没有任何限制，提高了激光器噪声特性测量的可信度。