专利详情

专利名称	立式大量程高精度光学平面测试装置
申请号	CN201210363897.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102878949A	公开（授权）日	2013.01.16
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	马冬梅;宋立维;王涛
主分类号	G01B11/24(2006.01)I	IPC主分类号	G01B11/24(2006.01)I
专利有效期	立式大量程高精度光学平面测试装置至立式大量程高精度光学平面测试装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	立式大量程高精度光学平面测试装置属于光学测试仪器领域，该装置包括：支撑底台、水平转台、精密转台、长导轨、第一反射镜、第二反射镜、第一测角装置、第二测角装置、滑板、数据采集分析系统和电控系统；支撑底台上依次放置水平转台和精密转台，精密转台的一侧与长导轨连接，长导轨上安装滑板、第一测角装置和第二测角装置；第一反射镜和第二反射镜固定在滑板上，滑板在长导轨上运动；数据采集分析系统控制第一测角装置和第二测角装置，电控系统控制精密转台和滑板运动。该装置其体积小、重量轻，可在不同姿态下使用，测试精度不受重力影响，结构简单，易于设计加工，可测试口径主要取决于长导轨的有效量程。