
一种提高真空等离子体喷涂钨涂层结合强度的方法
- 申请号:CN201010216477.5
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海硅酸盐研究所
- 公开(公开)号:CN102312186A
- 公开(公开)日:2012.01.11
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种提高真空等离子体喷涂钨涂层结合强度的方法 | ||
申请号 | CN201010216477.5 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102312186A | 公开(授权)日 | 2012.01.11 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海硅酸盐研究所 | 发明(设计)人 | 牛亚然;郑学斌;季珩;黄利平;丁传贤 |
主分类号 | C23C4/12(2006.01)I | IPC主分类号 | C23C4/12(2006.01)I;C23C4/08(2006.01)I;B32B15/01(2006.01)I |
专利有效期 | 一种提高真空等离子体喷涂钨涂层结合强度的方法 至一种提高真空等离子体喷涂钨涂层结合强度的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明属于涂层材料领域,具体涉及一种提高真空等离子体喷涂钨涂层结合强度的方法。本发明中的方法为采用Cu-Mo复合涂层作为W涂层与铜合金基材间的中间层,且所述中间层的厚度为50-200μm。利用本发明提供的方法,通过工艺参数的控制可使制备的W涂层与铜合金基材间的结合强度达到40MPa以上,同时含中间层的涂层具有结构均匀、热导率高、工艺制备过程简单的特点。 |
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