专利详情

专利名称	全极化综合孔径微波辐射计
申请号	CN200710119342.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101349719	公开（授权）日	2009.01.21
申请（专利权）人	中国科学院空间科学与应用研究中心	发明（设计）人	吴季;阎敬业;马纽埃尔·马丁·尼拉
主分类号	G01R29/08(2006.01)I	IPC主分类号	G01R29/08(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I;G01S13/90(2006.01)I
专利有效期	全极化综合孔径微波辐射计至全极化综合孔径微波辐射计	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种全极化综合孔径微波辐射计，包括依次连接的天线阵列、接收机阵列、相关器单元、控制和数据处理单元，所述控制和数据处理单元与计算机或数据接口连接；其特征在于，所述天线阵列是一维天线阵列，该天线阵列由平行排列的双极化天线单元组成。本发明具有如下技术效果：实现了一维综合孔径的全极化测量；实现了综合孔径辐射计等入射角测量；实现了综合孔径微波辐射计的两点定标；本发明的一维孔径综合的技术复杂度低于二维孔径综合；本发明的单通道接收机极化切换模式满足了轻量化和低功耗的要求；本发明的双通道接收机模式实现了高灵敏度辐射测量。