专利详情

专利名称	一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构
申请号	CN200810119562.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101349771	公开（授权）日	2009.01.21
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	王长涛;刘尧;赵延辉;罗先刚
主分类号	G02B3/00(2006.01)I	IPC主分类号	G02B3/00(2006.01)I
专利有效期	一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构至一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种实现超分辨成像功能的金属介质膜结构，其特征在于包括下列步骤：(1)选择入射光，其波长为λ；(2)选择金属材料和介质材料，介电常数分别为ε_m和ε_d；(3)交替排布金属薄膜和介质薄膜材料，形成多层金属介质薄膜结构，其中金属和介质单层膜层厚度分别为d_m和d_d，多层金属介质膜的总厚度为d；(4)将物点放置于多层膜材料的一侧，并用入射光来照射，在另一侧即可成像，其物像之间的距离为d+(ε_s(ε_d+ε_m)/(ε_s²+ε_dε_m))·d；(5)步骤(3) 所得结构即为能够实现超分辨成像功能的金属介质膜结构。本发明的金属介质膜结构，不需要金属和介质的介电常数匹配，只要在结构参数选择上满足特定条件，即可实现倏逝波放大，从而可以大大拓展实现超分辨成像的工作波长。