专利详情

专利名称	I-V二阶微分测量方法及装置
申请号	CN201110232212.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102323486A	公开（授权）日	2012.01.18
申请（专利权）人	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	发明（设计）人	马仙梅;蒋春萍
主分类号	G01R27/14(2006.01)I	IPC主分类号	G01R27/14(2006.01)I
专利有效期	I-V二阶微分测量方法及装置至I-V二阶微分测量方法及装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种I-V二阶微分测量方法及装置。该装置包括直流信号源、函数发生器、具有分压作用的交直流加法器、前置放大器，锁相放大器及环境条件控制系统；该方法是：将选定频率的交流小信号通过交直流加法器与直流偏压叠加，共同作用于测试样品，含有测试样品信息的信号经前置放大器放大转换成电压信号，由锁相测量倍频信号电压。本发明的优点至少在于：（1）交直流加法器交流通路里含有分压器；（2）交流信号由函数发生器提供，精度较高，并经过分压后幅度很小，降低了其对直流偏置信号的影响，提高了信噪比；（3）直接测量I-V二阶微分随外界条件的变化曲线，方法简单，结果精确直观，并且对测试者电路设计水平要求不高。