专利详情

专利名称	磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统
申请号	CN201210341758.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102866373A	公开（授权）日	2013.01.09
申请（专利权）人	中国科学院深圳先进技术研究院	发明（设计）人	刘新;郑海荣;潘艳丽;沈欢;蔡葳蕤
主分类号	G01R33/58(2006.01)I	IPC主分类号	G01R33/58(2006.01)I
专利有效期	磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统至磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统，包括以下步骤：测量温升；判断所述测量温升是否结束，否，则获取主磁场漂移信号值，并根据所述主磁场漂移信号值计算得到补偿电流值；根据所述补偿电流值对主磁场进行补偿。磁共振温度成像中温度测量的矫正方法和系统，在测量温升的过程，判断测量是否结束，若没有结束，则通过所获取的主磁场漂移信号值进行计算获得补偿电流值，最后根据补偿电流值对主磁场进行补偿，克服了主磁场漂移的缺陷。因为主磁场漂移量较低或趋于零，则磁共振温度成像中的温度测量的准确性就较高，达到了温度测量过程中矫正的目的。