专利详情

专利名称	一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置
申请号	CN201110070546.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102122082A	公开（授权）日	2011.07.13
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	刘政;王胜千;饶长辉
主分类号	G02B27/58(2006.01)I	IPC主分类号	G02B27/58(2006.01)I;G02B27/09(2006.01)I;G02B17/08(2006.01)I;G01S7/497(2006.01)I
专利有效期	一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置至一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种稀疏光学合成孔径成像系统的相位平移误差校正装置，由稀疏光学合成孔径望远镜、自适应光学系统、误差补偿器、误差补偿控制器、分束器、光束开关、消色差成像元件、科学级相机、误差计算单元组成。其中光束开关、消色差成像元件、科学级相机和误差计算单元构成误差探测模块；误差补偿器和误差补偿控制器构成误差补偿模块；另一套消色差成像元件和科学级相机构成成像模块。误差探测模块完成对相位平移误差的求解。误差补偿模块对相位平移误差进行补偿。针对不同子孔径对进行上述探测、补偿过程可实现系统内相位平移误差的完整校正。该装置可有效实现相位平移误差的探测和补偿功能，在准确性、实时性等方面较目前同类系统中的探测技术有所改善。