专利详情

专利名称	使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统
申请号	CN200810200212.9	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101369010	公开（授权）日	2009.02.18
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	褚君浩;孙雷;俞国林;周远明;高矿红;林铁;周文政;商丽燕
主分类号	G01R33/12(2006.01)I	IPC主分类号	G01R33/12(2006.01)I
专利有效期	使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统至使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明设计了一种使用锁相放大技术的自动化磁输运测量系统，可用于精确测量低温强磁场下材料的电学输运相关的性质，如测量磁阻震荡、霍尔效应等。系统主要包括：标准霍尔板样品、低温杜瓦及温控装置、磁体及磁控装置、两台锁相放大器、电流源、反向截止电路、电压源、GPIB控制卡、计算机。测量材料制备成标准霍尔板样品，计算机通过GPIB总线与各个仪器相连，使用程序控制各个仪器进行自动测量，实时显示测量结果，并保存测量结果为数据文件。本系统的主要优点有：1.相对与直流磁输运测量，能够用微小测量电流进行的磁输运测量，减小大电流带来的不利影响，提高了测量精度；2. 能够自动改变栅压和磁场，一次测量就给出栅压-磁场相图。