专利详情

专利名称	一种对平面超导微带谐振器进行检测与优化的方法
申请号	CN200810149558.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101369680	公开（授权）日	2009.02.18
申请（专利权）人	中国科学院物理研究所	发明（设计）人	李顺洲;何豫生;黄建冬;张雪强;李春光;何艾生;黎红
主分类号	H01P7/08(2006.01)I	IPC主分类号	H01P7/08(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	一种对平面超导微带谐振器进行检测与优化的方法至一种对平面超导微带谐振器进行检测与优化的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种平面超导微带谐振器，包括一条由上、下两层超导薄膜和位于两层超导薄膜间的人造单晶介质组成的微带线；其特征在于，所述微带线是一条连续完整的带状体，形成一个具有内环和外环的几何图形，其内、外环均不封闭。本发明的优点是寄生耦合大大减弱，结构更加紧凑。由于采用内、外环的结构，且内环、外环的电流方向相反，当本发明提供的这种谐振器组合在一起时它们的之间的耦合相对较弱，为了满足一定的耦合关系，它们必须靠得更近，这样就使整体结构更紧密；更重要的是对于三个或三个以上的谐振器组合，远场更弱的耦合就意味着寄生耦合的影响大大减小，基于这一点利用本发明提供的谐振器设计并制做出高性能的窄带超导带通滤波器。