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环氧胶阵列的制作方法

  • 申请号:CN200810201544.9
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所
  • 公开(公开)号:CN101383391
  • 公开(公开)日:2009.03.11
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 环氧胶阵列的制作方法
申请号 CN200810201544.9 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101383391 公开(授权)日 2009.03.11
申请(专利权)人 中国科学院上海技术物理研究所 发明(设计)人 张海燕;龚海梅;马伟平;陆华杰
主分类号 H01L31/18(2006.01)I IPC主分类号 H01L31/18(2006.01)I
专利有效期 环氧胶阵列的制作方法 至环氧胶阵列的制作方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种环氧胶阵列的制作方法,它适用于制作红外焦平面探测 器组件的封装结构试验模拟件。本发明的制作方法包括:光刻胶柱阵列图形, 匀环氧胶,环氧胶固化,浮光刻胶,去除多余环氧胶和点液态环氧胶工艺步骤。 本发明的环氧胶柱阵列制作工艺所需的温度低,工艺简单且成本低廉,能更好 的满足了组件结构设计的需求。

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