专利详情

专利名称	基于条纹特征提取算法的相干合成相位测控装置
申请号	CN200810226223.4	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101393376	公开（授权）日	2009.03.25
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	杨平;杨若夫;沈锋;许冰
主分类号	G02F1/35(2006.01)I	IPC主分类号	G02F1/35(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I;G06F19/00(2006.01)I
专利有效期	基于条纹特征提取算法的相干合成相位测控装置至基于条纹特征提取算法的相干合成相位测控装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	基于条纹特征提取算法的相干合成相位测控装置，由种子激光器输出的激光束经过准直器准直后经过1xN分束器，再经过预放级和放大级两级激光放大，通过分离式变形镜反射到空间压缩器，压缩空间距离后的光束再经过聚焦透镜会聚到远场成像系统上，内置于计算机的条纹特性提取算法分析远场成像系统上采集到的远场相干光斑条纹，计算机通过控制高压放大器将所需的控制电压施加在分离式变形镜的各个电极上，控制分离式变形镜校正多路光束间的位相差，本发明基于条纹特征提取算法能够直观、准确地测量出平移相位特性随时间的变化曲线，通过功率谱分析，能够确定出系统所需的控制带宽，对多路激光相干合成的控制过程也更加简单有效。