薄膜吸收多通道测量装置及测量方法
- 申请号：CN200810204471.9
- 专利类型：发明专利
- 申请（专利权）人：中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号：CN101435767
- 公开(公开)日：2009.05.20
- 法律状态：实质审查的生效
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专利详情
| 专利名称 | 薄膜吸收多通道测量装置及测量方法 | ||
| 申请号 | CN200810204471.9 | 专利类型 | 发明专利 |
| 公开（公告）号 | CN101435767 | 公开（授权）日 | 2009.05.20 |
| 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陶春先;赵元安;柯立公;贺洪波;李大伟;刘晓凤;张雷 |
| 主分类号 | G01N21/17(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/17(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I |
| 专利有效期 | 薄膜吸收多通道测量装置及测量方法 至薄膜吸收多通道测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
| 说明书摘要 | 一种应用于大口径激光薄膜的薄膜吸收多通道测量装置及其测量方 法，该装置由激励激光器、探测激光器、激励光衰减器、第一电子快门、 激励光透镜组、探测光衰减器、反射镜、第二电子快门探测光衰减器、 探测光透镜组、样品夹具、步进电机、滤波片、聚焦透镜、面阵CCD 相机、快门驱动器、图像采集卡、数据卡以及计算机组成，本发明具有 测量准确、快速、高效、运行稳定和数据处理自动化的特点。 | ||
交易流程
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