
一种制作纳米级图形的方法
- 申请号:CN200710177797.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院微电子研究所
- 公开(公开)号:CN101441410
- 公开(公开)日:2009.05.27
- 法律状态:授权
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专利详情
专利名称 | 一种制作纳米级图形的方法 | ||
申请号 | CN200710177797.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101441410 | 公开(授权)日 | 2009.05.27 |
申请(专利权)人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明(设计)人 | 傅剑宇;陈大鹏;景玉鹏;欧毅;叶甜春 |
主分类号 | G03F7/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G03F7/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种制作纳米级图形的方法 至一种制作纳米级图形的方法 | 法律状态 | 授权 |
说明书摘要 | 本发明公开了一种制作纳米级图形的方法,该纳米级图形是将图形数 据转化成二进制信号控制微动台二维x-y方向的运动和金属尖端电压的加 载,利用尖端加载电压后产生的电子束对电子抗蚀剂进行曝光获得的,包 括:在样品表面涂上一层电致抗蚀剂薄膜,在微动台上固定金属微尖端; 将涂有电致抗蚀剂薄膜的样品加载到微动台上,与微尖端保持一定的距 离;将装载有金属尖端和样品的微动台放置到真空腔体中,并利用真空泵 对腔体抽真空;利用软件编程将被加工图形数据转换成二进制信号,用该 二进制码控制微动台做二维x-y方向的运动,并给金属微尖端加载电压, 通过在强电场下尖端发射的低能电子束对电子抗蚀剂进行曝光;对曝光后 的样品进行显影、定影。本发明有效地解决了浸没式光刻成本高和聚焦电 子束存在邻近效应影响分辨率的问题。 |
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