专利详情

专利名称	一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法
申请号	CN201110391568.7	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102508037A	公开（授权）日	2012.06.20
申请（专利权）人	中国科学院微电子研究所	发明（设计）人	陈巍巍;陈岚;龙爽;杨诗洋
主分类号	G01R27/08(2006.01)I	IPC主分类号	G01R27/08(2006.01)I
专利有效期	一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法至一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	一种位线选通装置等效电阻的测试系统及其方法，该系统包括四条连续的位线，每条位线连接一个选通装置，四个选通装置相同，所述四个选通装置分别为：第一选通装置、第二选通装置、第三选通装置以及第四选通装置，多个存储单元，每个存储单元与相邻的两条所述位线相邻，还包括：选通控制装置、高电平提供装置、低电平提供装置、第一电压测试装置、第二电压测试装置、第一电流测试装置、电阻测试装置、计算单元。本发明实施例通过选取连续四条位线实现对存储单元的读写操作，并选择其中两端的位线作为选通装置的电压测试端，能够准确获取选通装置的等效电阻，实现对选通装置的性能优劣进行评估，进而提高对存储单元进行读写操作的准确度。