专利详情

专利名称	一种偏振和双折射测量系统
申请号	CN201210088188.0	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102621072A	公开（授权）日	2012.08.01
申请（专利权）人	中国科学院光电技术研究所	发明（设计）人	范真节;林妩媚;邢廷文;刘学峰
主分类号	G01N21/23(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/23(2006.01)I
专利有效期	一种偏振和双折射测量系统至一种偏振和双折射测量系统	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明提供一种偏振和双折射测量系统，通过采用多波片组合以提高偏振和应力双折射的测量精度，其中，光源模块：包括光源和准直扩束系统，起偏器，待测样品。光信号调制模块：包括多级相差共轴波片、检偏器、步进电机驱动卡，步进电机。数据采集处理模块：包括图像采集卡、光强探测器以及计算机。本发明很好的避免了环境和测量条件变化如空气流动，温度变化以及某些不确定的振动方式带来的影响。该系统使用超过一个独立的位相调制元件来抑制噪声，平均主要误差源。本发明该系统采用三个波片来对偏振和双折射进行测量，很好地避免了由于系统的非线性影响引起的非线性误差，大大提高了测量精度。