
物体三维轮廓测量装置及测量方法
- 申请号:CN200810204749.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
- 公开(公开)号:CN101451826
- 公开(公开)日:2009.06.10
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 物体三维轮廓测量装置及测量方法 | ||
申请号 | CN200810204749.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN101451826 | 公开(授权)日 | 2009.06.10 |
申请(专利权)人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明(设计)人 | 张军;周常河;贾伟;武腾飞 |
主分类号 | G01B11/25(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
专利有效期 | 物体三维轮廓测量装置及测量方法 至物体三维轮廓测量装置及测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种物体三维轮廓测量装置及测量方法,该装置由激光二极管、透镜、小 孔光阑、二维达曼光栅、柱面镜、面阵CCD相机、传输线和计算机构成,各 部件的连接关系是:所述的激光二极管发出的光束依次经过透镜、小孔光阑、 二维达曼光栅和柱面镜后,形成一维投影阵列条纹,照明待测目标的表面, 由所述的面阵CCD相机采集被测量目标表面三维面形调制的光栅投影条纹, 经传输线输入所述的计算机,所述计算机具有图像采集接口、图像采集软件 和三维测量信息重建算法软件。本发明利用二维达曼光栅和柱面镜的傅立叶 变换三维轮廓测量结构具有能量利用率高、测量结构简单、测量精度高、计 算机重构信息处理简便和易于操作等优点。 |
交易流程
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专利 -
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