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物体三维轮廓测量装置及测量方法

  • 申请号:CN200810204749.2
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 公开(公开)号:CN101451826
  • 公开(公开)日:2009.06.10
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 物体三维轮廓测量装置及测量方法
申请号 CN200810204749.2 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101451826 公开(授权)日 2009.06.10
申请(专利权)人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明(设计)人 张军;周常河;贾伟;武腾飞
主分类号 G01B11/25(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/25(2006.01)I
专利有效期 物体三维轮廓测量装置及测量方法 至物体三维轮廓测量装置及测量方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种物体三维轮廓测量装置及测量方法,该装置由激光二极管、透镜、小 孔光阑、二维达曼光栅、柱面镜、面阵CCD相机、传输线和计算机构成,各 部件的连接关系是:所述的激光二极管发出的光束依次经过透镜、小孔光阑、 二维达曼光栅和柱面镜后,形成一维投影阵列条纹,照明待测目标的表面, 由所述的面阵CCD相机采集被测量目标表面三维面形调制的光栅投影条纹, 经传输线输入所述的计算机,所述计算机具有图像采集接口、图像采集软件 和三维测量信息重建算法软件。本发明利用二维达曼光栅和柱面镜的傅立叶 变换三维轮廓测量结构具有能量利用率高、测量结构简单、测量精度高、计 算机重构信息处理简便和易于操作等优点。

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