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一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置

  • 申请号:CN200810056904.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院计算技术研究所
  • 公开(公开)号:CN101493943
  • 公开(公开)日:2009.07.29
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置
申请号 CN200810056904.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN101493943 公开(授权)日 2009.07.29
申请(专利权)人 中国科学院计算技术研究所 发明(设计)人 梁大为;黄庆明;蒋树强;高文
主分类号 G06T7/20(2006.01)I IPC主分类号 G06T7/20(2006.01)I
专利有效期 一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置 至一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种粒子滤波跟踪方法和跟踪装置,该方法包括:步骤S1: 在原始图像帧上采样获得初始粒子集;步骤S2:对原始图像帧的像素经过前 景背景分类得到概率图;步骤S3:按照系统动态模型传播粒子并采样,得到 第二粒子集;步骤S4:按照在概率图上构建的系统观察模型得到所述第二粒 子的权重,并归一化粒子的权重得到第三粒子集;步骤S5:对所述第三粒子 集进行重要性重采样,得到重采样粒子集;步骤S6:通过重采样粒子集计算 系统状态并输出。本发明提高了粒子滤波的计算效率,并提高了鲁棒性,不容 易丢失目标。

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