专利详情

专利名称	半导体激光器波长筛选装置
申请号	CN200910066763.5	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101515701	公开（授权）日	2009.08.26
申请（专利权）人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	发明（设计）人	王立军;刘云;刘长军;秦丽;宁永强
主分类号	H01S5/00(2006.01)I	IPC主分类号	H01S5/00(2006.01)I;H01S5/40(2006.01)I;G01J9/00(2006.01)I
专利有效期	半导体激光器波长筛选装置至半导体激光器波长筛选装置	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	半导体激光器波长筛选装置属于半导体光电子学技术领域，该装置包括支柱、坐板、滑管、内滑管、调节冒、螺母、悬臂梁、贝母、倒向管、测头和测台，支柱固定在坐板上，支柱的一端与坐板螺纹连接，滑管与坐板固定连接，滑管与内滑管通过螺丝固定连接，内滑管与螺母螺纹连接，调节冒与螺母螺纹连接，悬臂梁与螺母、内滑管接触式连接，贝母和倒向管螺纹连接，测头与倒向管弹性连接，测台与坐板通过螺丝固定连接。本发明有益效果是：工艺简单实用，操作简便，可完成脉冲或低占空比的不同波长的巴条测试，解决了封装后才可挑选波长的弊病，提高了成品率和生产效率，满足了用户对波长及半线宽指标的要求，有效降低了成本。