专利详情

专利名称	一种用无损检测与有限元模拟结合定量分析材料界面性能的方法
申请号	CN200910083513.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101545849	公开（授权）日	2009.09.30
申请（专利权）人	中国科学院化学研究所	发明（设计）人	谭帅霞;徐坚;戴珍;张小莉
主分类号	G01N21/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01N21/00(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I
专利有效期	一种用无损检测与有限元模拟结合定量分析材料界面性能的方法至一种用无损检测与有限元模拟结合定量分析材料界面性能的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明涉及一种用无损检测与有限元分析结合定量分析材料界面性能的方法。该方法通过加载复合材料，无损检测系统实时记录某一加载变量；同时有限元方法依据材料本征性质，模量、抗拉强度及泊松比等对应模拟试件加载全过程，找到与无损检测变量相对应的模拟状态，进而得到此模拟状态下的全面分析结果，包括纤维与基体间摩擦系数、应力、应变、反力等反映材料界面性能的各个物理量。无损检测高精度方法验证有限元分析的部分参量，而有限元分析提供更全面的分析结果。该方法灵敏度高、定量值可信，无需破坏粘接层。