专利详情

专利名称	基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样开关
申请号	CN200810106010.8	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101577545	公开（授权）日	2009.11.11
申请（专利权）人	中国科学院电子学研究所	发明（设计）人	杨海钢;刘珂;尹韬
主分类号	H03M1/06(2006.01)I	IPC主分类号	H03M1/06(2006.01)I;H03M1/12(2006.01)I;H03K17/14(2006.01)I;H03K17/687(2006.01)I;G11C27/02(2006.01)I
专利有效期	基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样开关至基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样开关	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种基于双自举和电压补偿技术的A/D转换器采样开关，包括：主开关单元，用于待采样信号通路，实现对待采样信号的采样功能；衬底电压自举单元，用于实现主开关单元中开关管PMOS Switch 的衬底电压自举功能；栅极电压自举单元，用于实现主开关单元中开关管PMOS Switch的栅极电压自举功能；储压单元，用于对输入信号V_IN进行并行采样，实现V_IN电压的暂时存储功能；电压补偿单元，用于实现输出端V_OUT采样输出电压的补偿功能。本发明设计出可以工作在低电压下，低功耗、对工艺误差不敏感的采样开关；同时，采取电压自补偿的办法进行消除，有效解决了开关管栅电压自举后出现时钟溃通带来的非线性问题。