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锗基赝砷化镓衬底的制备方法

  • 申请号:CN201210057303.8
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN102543693A
  • 公开(公开)日:2012.07.04
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 锗基赝砷化镓衬底的制备方法
申请号 CN201210057303.8 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102543693A 公开(授权)日 2012.07.04
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 周旭亮;于红艳;潘教青;朱洪亮;王圩
主分类号 H01L21/205(2006.01)I IPC主分类号 H01L21/205(2006.01)I
专利有效期 锗基赝砷化镓衬底的制备方法 至锗基赝砷化镓衬底的制备方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种锗基赝砷化镓衬底的制备方法,包括以下步骤:步骤1:清洗锗衬底,放入MOCVD设备的反应室;步骤2:采用700℃高温处理锗衬底;步骤3:采用MOCVD的方法,在锗衬底上外延生长缓冲层;步骤4:在缓冲层上,生长赝GaAs层,完成材料的制备。其是通过MOCVD外延技术并结合改变原料的低温缓冲层外延与锗匹配的赝砷化镓层,抑制了GaAs/Si界面失配位错和APD向外延层的延伸;低生长速率的控制可以有效地控制缺陷,从而得到高质量的锗基赝砷化镓材料。

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