专利详情

专利名称	红外探测器的测量装置和测量方法
申请号	CN201210525867.X	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN103017912A	公开（授权）日	2013.04.03
申请（专利权）人	中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所	发明（设计）人	熊敏;周桃飞;邢利敏;董旭;张志强;张宝顺
主分类号	G01J5/10(2006.01)I	IPC主分类号	G01J5/10(2006.01)I
专利有效期	红外探测器的测量装置和测量方法至红外探测器的测量装置和测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开一种红外探测器的测量装置和测量方法，该装置包括红外光谱仪，提供单色的红外光；低温装置，具有红外窗口，该红外窗口接收所述红外光；设于所述低温装置内的待测探测器和参考探测器；移动平台，带动所述红外光谱仪或待测探测器和参考探测器移动；前置放大器，分别连接于所述待测探测器和参考探测器，所述前置放大器将探测信号放大后输出至所述红外光谱仪。本发明首先完成低温装置内高响应度的参考探测器对准，移动平台移动相应偏移量后实现待测探测器的自动对准。可提高小尺寸、低响应度红外探测器低温测量的对准效率与测量精度，方便多个样品多次、重复测量。