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一种在蓝宝石衬底上生长自剥离氮化镓薄膜的方法

  • 申请号:CN201210325765.3
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
  • 公开(公开)号:CN102839417A
  • 公开(公开)日:2012.12.26
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种在蓝宝石衬底上生长自剥离氮化镓薄膜的方法
申请号 CN201210325765.3 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN102839417A 公开(授权)日 2012.12.26
申请(专利权)人 中国科学院半导体研究所 发明(设计)人 王建霞;李志伟;赵桂娟;桑玲;刘长波;魏鸿源;焦春美;杨少延;刘祥林;朱勤生;王占国
主分类号 C30B25/02(2006.01)I IPC主分类号 C30B25/02(2006.01)I;C30B25/18(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I
专利有效期 一种在蓝宝石衬底上生长自剥离氮化镓薄膜的方法 至一种在蓝宝石衬底上生长自剥离氮化镓薄膜的方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 本发明公开了一种在蓝宝石衬底上生长自剥离氮化镓薄膜的方法,利用MOCVD设备在r面蓝宝石衬底上以InGaN插入层和GaN低温缓冲层作为弱键合层生长a面氮化镓的自剥离薄膜,具体包括:取一蓝宝石衬底;在MOCVD设备中通入氨气,对蓝宝石衬底进行氮化,在其上生成一层氮化层;在MOCVD设备中利用载气通入铟源、镓源和氨气,使得在氮化层上得到InGaN层;在MOCVD设备中利用载气通入镓源和氨气,生长一层低温GaN缓冲层;在MOCVD设备中利用载气通入镓源和氨气,生长氮化镓外延层。本发明以InGaN插入层和低温GaN缓冲层做弱键合层,可以得到高结晶质量的自剥离GaN薄膜。

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