
一种用于投影光刻纳米量级自动调焦系统
- 申请号:CN201110082634.2
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
- 公开(公开)号:CN102141738A
- 公开(公开)日:2011.08.03
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种用于投影光刻纳米量级自动调焦系统 | ||
申请号 | CN201110082634.2 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN102141738A | 公开(授权)日 | 2011.08.03 |
申请(专利权)人 | 中国科学院光电技术研究所 | 发明(设计)人 | 徐锋;胡松;罗正全;周绍林;陈旺富;李金龙;谢飞;李兰兰;盛壮 |
主分类号 | G03F7/20(2006.01)I | IPC主分类号 | G03F7/20(2006.01)I;G03F9/00(2006.01)I |
专利有效期 | 一种用于投影光刻纳米量级自动调焦系统 至一种用于投影光刻纳米量级自动调焦系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 本发明是一种用于投影光刻纳米量级自动调焦系统,由光路、图像处理模块、电路控制模块组成。光路包括准直激光束、两个光栅标记、四个透镜、硅片台、CCD图像探测器;准直激光束垂直照明一光栅标记,并沿着一、二透镜的光轴对硅片台表面构成掠入射成像,投影在硅片台被测表面上并发生镜面反射,光栅像通过三、四透镜再次成像在四透镜的焦面上,一光栅标记的像与二光栅标记以一定间隙重叠,发生多次衍射,并在光栅的表面形成放大的莫尔干涉条纹,然后成像于CCD图像探测器上。通过图像处理模块对图像进行处理提取出相位差,进而计算出离焦量;再通过电路控制模块判断硅片台表面的离焦情况,进而控制硅片台移动,使硅片台表面达到最佳焦面位置。 |
交易流程
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