专利详情

专利名称	测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法
申请号	CN201010540138.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102023268A	公开（授权）日	2011.04.20
申请（专利权）人	中国科学院电工研究所	发明（设计）人	胡新宁;王秋良;李毅;崔春艳;戴银明;李兰凯
主分类号	G01R31/00(2006.01)I	IPC主分类号	G01R31/00(2006.01)I
专利有效期	测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法至测量超导线圈失超传播速度的装置及其测量方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明测量超导线圈失超传播速度的装置，通过背场超导磁体(4)实现一定的背景磁场，利用制冷机(2)和低温液体提供两种低温工作环境。被测超导线圈(5)安装在低温容器(8)内。被测超导线圈(5)包括被测超导线圈疏绕部分(15)和被测超导线圈密绕部分(16)，分别用于测量被测超导线圈(5)沿导线方向上的失超传播速度和沿径向方向上的失超传播速度。本装置可实现超导线圈在二维方向上失超传播速度的测量，测量精确。