专利详情

专利名称	声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试系统和方法
申请号	CN201010234906.1	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN101907513A	公开（授权）日	2010.12.08
申请（专利权）人	中国科学院上海技术物理研究所	发明（设计）人	沈渊婷;杨世骥;何志平;袁立银;王建宇;舒嵘
主分类号	G01M11/02(2006.01)I	IPC主分类号	G01M11/02(2006.01)I
专利有效期	声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试系统和方法至声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试系统和方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种声光可调谐滤光器衍射性能弱光测试系统及测试方法。该系统由单色光源系统、光信号调制系统、光学系统及光电探测系统组成。单色光源系统可生成波长连续可调的单色光束，通过光阑孔后由斩光器对其进行频率调制，交流光信号依次经由准直镜、起偏器、滤光片形成单波长准直偏振光，并垂直入射AOTF；由棱镜将会聚后的0级光及驱动后产生的衍射光折转不同方向，分别由两个光电探测器接收，从而分析AOTF的衍射性能。本发明装置原理简单、可操作性强，可满足AOTF测试连续波长的需求，同时通过自动控制软件可大幅提高测试效率。针对AOTF在弱光下的应用需求，利用锁相电路实现弱光条件检测，提高测试精度。该系统实现0级光和衍射光的独立测试，提高测试准确性。