
一种校正多通道幅相误差的微波三维成像方法
- 申请号:CN201110279290.4
- 专利类型:发明专利
- 申请(专利权)人:中国科学院电子学研究所
- 公开(公开)号:CN103018739A
- 公开(公开)日:2013.04.03
- 法律状态:实质审查的生效
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专利详情
专利名称 | 一种校正多通道幅相误差的微波三维成像方法 | ||
申请号 | CN201110279290.4 | 专利类型 | 发明专利 |
公开(公告)号 | CN103018739A | 公开(授权)日 | 2013.04.03 |
申请(专利权)人 | 中国科学院电子学研究所 | 发明(设计)人 | 王彦平;韩阔业;谭维贤;洪文;吴一戎 |
主分类号 | G01S13/90(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S13/90(2006.01)I |
专利有效期 | 一种校正多通道幅相误差的微波三维成像方法 至一种校正多通道幅相误差的微波三维成像方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 |
说明书摘要 | 一种校正多通道幅相误差的微波三维成像方法,涉及微波三维成像技术,对微波原始三维回波数据中每个接收通道二维数据用二维成像算法得二维像;在所有二维像中以定标器目标为参考目标,以各通道参考目标最大幅度值为参考,对所有通道数据进行幅度校正;得到参考目标到各接收天线的实际距离和理想距离,作为校正多通道距离偏移的滤波器H1(f);用傅立叶变换将信号变换到距离向频域,与滤波器相乘,再用傅立叶逆变换将信号变换回距离向时域;取每个二维像中参考目标峰值处解缠相位,与理想距离算出的理想相位历程相减,得校正多通道相位误差的因子H2(i);用H2(i)与二维成像后的数据相乘补偿相位误差的影响;沿跨行向Y使用后向投影算法得聚焦良好的目标区域三维图像。 |
交易流程
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