专利详情

专利名称	一种优化综合孔径阵构型的方法
申请号	CN201110405375.2	专利类型	发明专利
公开（公告）号	CN102567573A	公开（授权）日	2012.07.11
申请（专利权）人	中国科学院国家天文台;清华大学	发明（设计）人	苏彦;周建峰
主分类号	G06F17/50(2006.01)I	IPC主分类号	G06F17/50(2006.01)I
专利有效期	一种优化综合孔径阵构型的方法至一种优化综合孔径阵构型的方法	法律状态	实质审查的生效
说明书摘要	本发明公开了一种优化新型综合孔径阵构型的方法。综合孔径阵成像技术是实现极高分辨率天文观测的有效手段，对研究宇宙中一些天体如活动星系核、X射线双星等起着至关重要的作用；综合孔径阵的构型直接影响着成像的质量，因此构型的优化设计对建设大型的综合孔径阵十分关键。本优化方法首次将库伦场的概念引入到优化设计中，库伦力的作用促使阵构型向优化的方向演化，通过设置额外的耗散力，最终得到最优化的阵构型。库伦场的引入使得阵构型的优化设计更为精确，并大大降低优化的计算量。另外，本优化方法首次将势能作为评价综合孔径阵构型优劣的指标，使得将阵构型的优化建立在合理的物理基础之上。