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一种光学系统焦距检测方法

  • 申请号:CN201210544399.0
  • 专利类型:发明专利
  • 申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 公开(公开)号:CN103033344A
  • 公开(公开)日:2013.04.10
  • 法律状态:实质审查的生效
  • 出售价格: 面议
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专利详情

专利名称 一种光学系统焦距检测方法
申请号 CN201210544399.0 专利类型 发明专利
公开(公告)号 CN103033344A 公开(授权)日 2013.04.10
申请(专利权)人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明(设计)人 刘志明;陈黎;匡海鹏;张雪菲;李清军
主分类号 G01M11/02(2006.01)I IPC主分类号 G01M11/02(2006.01)I
专利有效期 一种光学系统焦距检测方法 至一种光学系统焦距检测方法 法律状态 实质审查的生效
说明书摘要 一种光学系统焦距检测方法,属于光学技术领域,该方法包括如下步骤:光源的光线透过目标板后形成莫尔条纹,莫尔条纹经放平行光管后,将目标板的发散光变成平行光,被测镜头后,目标成在被测镜头的焦平面上;利用计算机对TDICCD进行配置,确定TDICCD行转移脉冲信号的驱动频率fT,由像移线速度可知,行转移脉冲信号驱动频率fT与像移线速度v成比例关系,计算机控制TDICCD从起始位置开始转动时,发出行转移脉冲信号,并开始记录图像,到达结束位置时,停止记录图像和发出行转移脉冲信号;该速度下驱动精密转台拍照4~5次,计算出被测镜头焦距。本发明方法检测精度高,广泛应用于光学仪器设备中光学系统焦距的检测。

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